Перегляд за Автор "ЯНАКІ ОЛЕКСАНДР РОМАНОВИЧ"

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
  • Документ
    МОДЕРНІЗАЦІЯ ТЕСТЕРУ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ ТРАНЗИСТОРІВ НА AVR-МІКРОКОНТРОЛЕРІ
    (ВСП "ОТФК ОНТУ", Відділення Комп'ютерних систем, 2025) ЯНАКІ ОЛЕКСАНДР РОМАНОВИЧ
    Сучасні напівпровідникові компоненти є основою більшості електронних пристроїв, тому їх якісне тестування відіграє ключову роль у діагностиці та ремонті електроніки. Однак існуючі тестери транзисторів не завжди забезпечують достатню точність і надійність вимірювань. Більшість таких приладів орієнтовані лише на вимірювання одного або двох параметрів, що свідчить про достатність такого підходу для більшості завдань. Однак бувають випадки, коли потрібно отримати додаткову інформацію щодо роботи транзистора. Тому актуальним є питання модернізації таких пристроїв. У даному дипломному проєкті розглядається модернізація тестеру напівпровідникових транзисторів на основі мікроконтролера ATmega328. Основна мета – підвищення точності вимірювань, забезпечення зручного відображення результатів та оптимізація енергоспоживання. Для цього тестер буде оснащений графічним дисплеєм роздільною здатністю 128×64 пікселів (з контролером ST7565 або SSD1306) та підтримкою інтерфейсів SPI або I2C. Управління тестуванням здійснюватиметься натисканням кнопки TEST, після чого пристрій автоматично вимикатиметься при завершенні вимірювання. Оскільки тестер може працювати від автономного джерела живлення, критично важливо мінімізувати енергоспоживання. У вимкненому стані струм споживання не перевищуватиме 20 нА, а для зменшення витрат енергії у режимі очікування застосовуватиметься функція Sleep Mode. Пристрій буде здатний автоматично визначати тип напівпровідникового елемента (N-P-N і P-N-P біполярні транзистори, MOSFET, JFET), а також його розташування виводів. Додатково проводитиметься вимірювання ключових параметрів, таких як коефіцієнт підсилення та порогова напруга база-емітер. Час тестування більшості компонентів не перевищуватиме 2 секунд, хоча вимірювання ємності або індуктивності може вимагати більше часу. Таким чином, реалізація модернізованого тестеру забезпечить більш ефективне та зручне тестування напівпровідникових транзисторів, що є важливим як для ремонту, так і для розробки електронних схем.